Abstract:
Bu çalışmada amaç bir üçgen dalga uygulunarak silisyum yüzeyde oluşan gözenekli silisyumu incelenmektir. Benzer çalışmalarda da elde edilmiş gözenekli silisyum örnekleri sabit akım yoğunluğunda hazırlanmıştır. Bu çalışmada ise akım yoğunlukları zamanla değişen farklı örnekler hazırlanmış ve incelenmiştir. Farklı iniş-çıkış zaman aralıklarına sahip akım, silisyum örneklere uygulanmıştır. Bu hazırlanan örneklerin elektron mikroskop ve FTIR incelemeleri yapılmıştır.